日本電子JEOL截面拋光儀制樣設(shè)備 參考價(jià):100000
日本電子JEOL截面拋光儀制樣設(shè)備為了滿(mǎn)足市場(chǎng)多樣化的需求,IB-19530CP截面拋光儀采用多用途樣品臺(tái),通過(guò)交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。CP截面樣品制備裝置 參考價(jià):面議
IB-19520CCP截面樣品制備裝置在加工過(guò)程中利用液氮冷卻,能減輕離子束對(duì)樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時(shí)間長(zhǎng)、液氮消耗少的構(gòu)造設(shè)計(jì)。在裝有液氮的情況下,也能將...IB-19530CP截面樣品制備裝置 參考價(jià):面議
IB-19530CP截面樣品制備裝置為了滿(mǎn)足市場(chǎng)多樣化的需求,IB-19530CP截面拋光儀采用多用途樣品臺(tái),通過(guò)交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。離子切片儀 參考價(jià):面議
EM-09100IS 離子切片儀用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡(jiǎn)...低溫冷凍離子切片儀 參考價(jià):200000
IB-09060CIS™ 低溫冷凍離子切片儀易受熱損傷的樣品,也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。冷卻保持時(shí)間長(zhǎng),有效地抑制了熱損傷。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)