JXA-iSP100 電子探針顯微分析儀 參考價：面議
JXA-iSP100 電子探針顯微分析儀在保持高局部微量元素分析性能的同時，追求每個人都能簡單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效地進行觀察分析和操作，是更先進的...
CP截面樣品制備裝置 參考價：面議
IB-19520CCP截面樣品制備裝置在加工過程中利用液氮冷卻，能減輕離子束對樣品造成的熱損傷。冷卻持續時間長、液氮消耗少的構造設計。在裝有液氮的情況下，也能將...
IB-19530CP截面樣品制備裝置 參考價：面議
IB-19530CP截面樣品制備裝置為了滿足市場多樣化的需求，IB-19530CP截面拋光儀采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實現了功能的多樣化。
離子切片儀 參考價：面議
EM-09100IS 離子切片儀用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER樣品制備的創新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統制備工具快速、簡...
低溫冷凍離子切片儀 參考價：200000
IB-09060CIS™ 低溫冷凍離子切片儀易受熱損傷的樣品，也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。冷卻保持時間長，有效地抑制了熱損傷。
JED-2300/2300F 能譜儀 參考價：面議
JED-2300/2300F 能譜儀是以“圖像觀察和分析“ 為基本理念的TEM/EDS集成系統。通過與SEM的馬達驅動樣品臺聯動使用，可以進行大范圍的觀察和分析...
JSM-IT200 InTouchScope™ 掃描電子顯微鏡 參考價：500000
JSM-IT200 InTouchScope™ 掃描電子顯微鏡 是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡。
JEOL臺式掃描電子顯微鏡 參考價：200000
JCM-7000JEOL臺式掃描電子顯微鏡 NeoScope™ 是以“誰都可以操作的SEM/EDS“為理念的臺式掃描電子顯微鏡， 標配Zeromag...
場發射掃描電鏡 參考價：500000
JSM-IT800場發射掃描電鏡具備高分辨觀察和高速元素面分析，能夠滿足客戶的各種需求。該裝置配備浸沒式肖特基場發射電子槍、新一代電子光學控制系統Neo Eng...
InTouchScope™ 熱場發射掃描電子顯微鏡 參考價：500000
InTouchScope™ 熱場發射掃描電子顯微鏡日常使用的SEM，好用！ 該設備最高分辨率1nm、最大探針電流300nA（之前的15倍），可提供豐...
掃描電子顯微鏡 參考價：500000
JSM-IT510 InTouchScope™ 掃描電子顯微鏡不僅是開展科研工作所不可少的工具，對于需要品控的制造工廠也是*。 在這些場景中，用戶需...
JEM-F200 場發射透射電子顯微鏡 參考價：面議
JEM-F200 場發射透射電子顯微鏡以節能環保、減排低碳為理念開發的JEM-F200場發射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統...
超高壓透射電鏡 參考價：面議
JEM-1000 超高壓透射電鏡由于超高壓透射電子顯微鏡的加速電壓很高電子波長很短，即使增大物鏡極靴之間的間隙，也能獲得高分辨率的圖像。此外，電子束具有很強的穿...
JEM-2100Plus 透射電子顯微鏡 參考價：面議
JEM-2100Plus 透射電子顯微鏡，不僅擁有信譽的JEM-2100 的電子光學系統，還增加了最新的控制系統，大幅提高了可操作性。 多功能電子顯微鏡JEM-...
TEM斷層掃描系統 參考價：面議
EM-05500TGP TEM斷層掃描系統采用算法的軟件，實現了從獲取連續傾斜圖像到三維重構整個過程的自動化。
JED-2300T 能譜儀 參考價：面議
JED-2300T 能譜儀是以“圖像觀察和分析"為基本理念的TEM/EDS集成系統。在分析數據過程中，自動采集電鏡主機的倍率、加速電壓等參數，進行數據管理。
JEM-1400Flash 透射電子顯微鏡 參考價：面議
JEM-1400Flash 透射電子顯微鏡配備了高靈敏度sCMOS相機、超廣視野的蒙太奇系統以及光學顯微鏡圖像的聯動功能，是一款新型的高通量、高分辨率 的120...
JEM-Z200FSC 場發射冷凍電子顯微鏡 參考價：面議
JEM-Z200FSC 場發射冷凍電子顯微鏡 JEM-Z200FSC CRYO ARM 200標配冷場發射電子槍、柱體內能量過濾器（Ω能量過濾器）、液氮冷卻樣品...
NEOARM 原子級分辨率透射電子顯微鏡 參考價：面議
NEOARM 原子級分辨率透射電子顯微鏡標配了日本電子獨自開發的冷場發射電子槍（Cold-FEG）和全新的高階球差校正器（ASCOR）。無論是在200kV的高加...
JEM-ACE200F 高效分析型電子顯微鏡 參考價：面議
JEM-ACE200F 高效分析型電子顯微鏡將JEM-ARM200F和JEM-F200的硬件技術整合在一起，實現了高度穩定性和高分辨率，以精煉的外觀設計呈現。該...
JEM-ARM300F2 原子分辨率分析型電子顯微鏡 參考價：面議
JEM-ARM300F2 原子分辨率分析型電子顯微鏡是GRAND ARMTM的第二代產品，該設備在性能上有了進一步的提高，無論采用怎樣的加速電壓都能獲得超高空間...
(JEM-3300) 場發射冷凍透射電子顯微鏡 參考價：面議
(JEM-3300) 場發射冷凍透射電子顯微鏡是一款低溫冷凍透射電子顯微鏡，專門用于觀察如蛋白質等對電子束敏感的樣品，可進行單顆粒分析、斷層掃描和MicroED...
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