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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀4200A-SGS特點(diǎn)
用于 DC IV、CV 和脈沖 IV 測(cè)量類型的高級(jí)測(cè)量硬件
立即使用 Clarius 軟件中所含的數(shù)百種用戶可修改應(yīng)用程序測(cè)試開始測(cè)試
自動(dòng)實(shí)時(shí)參數(shù)提取、數(shù)據(jù)繪圖、分析函數(shù)
準(zhǔn)確的 C-V 表征
使用半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀4200A-SCS的電容-電壓?jiǎn)卧?(CVU) 4215-CVU 測(cè)量一位數(shù)飛法。通過將 1 V AC 電源集成到 CVU 架構(gòu)中，4215-CVU 可在 1 kHz 至 10 MHz 的頻率下進(jìn)行低噪聲電容測(cè)量。
特點(diǎn)
能夠驅(qū)動(dòng)1 V AC 電源電壓的 CV 表
1 kHz 頻率，分辨率從1 kHz 到 10 MHz
測(cè)量電容、電導(dǎo)和導(dǎo)納
使用 4200A-CVIV 多路開關(guān)可測(cè)量四個(gè)通道
測(cè)量、 切換、 重復(fù)。
半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀4200A-SCS多通道切換模塊自動(dòng)在 I-V 和 C-V 測(cè)量之間切換，無需重新布線或抬起探頭端部。 與競(jìng)爭(zhēng)產(chǎn)品不同，四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本地可視查看，可快速完成測(cè)試設(shè)置，并在出現(xiàn)意想不到的結(jié)果時(shí)輕松排除故障。
特點(diǎn)
無需重新布線即可將 C-V 測(cè)量移動(dòng)到任何設(shè)備終端
用戶可配置低電流功能
個(gè)性化輸出通道名稱
查看實(shí)時(shí)測(cè)試狀態(tài)
穩(wěn)定的低電流測(cè)量，適用于 I-V 檢定
使用 4201-SMU 和 4211-SMU 模塊，您可以在高電容系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的低電流測(cè)量。4200A-SCS 有四種型號(hào)的源測(cè)量單位 (SMU) 可供選擇，可通過定制滿足您所有的 I-V 測(cè)量需求。通過提供現(xiàn)場(chǎng)可安裝單元和可選的預(yù)放大器模塊，Keithley 可確保您獲得準(zhǔn)確的低電流測(cè)量，而停機(jī)時(shí)間很少甚至沒有。
特點(diǎn)
不必將儀器送回工廠即可增加 SMU
進(jìn)行 飛安測(cè)量
多達(dá) 9 個(gè) SMU 通道
針對(duì)長(zhǎng)電纜或大卡盤進(jìn)行了優(yōu)化
帶分析探測(cè)器和低溫控制器的集成解決方案
4200A-SCS 半導(dǎo)體參數(shù)分析儀支持許多手動(dòng)和半自動(dòng)晶片探測(cè)器和低溫控制器，包括 MPI、Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。
特點(diǎn)
“點(diǎn)擊"測(cè)試定序
“手動(dòng)"探測(cè)器模式測(cè)試探測(cè)器功能
假探測(cè)器模式無需移除命令即可實(shí)現(xiàn)調(diào)試
生物傳感器檢定
生物傳感器或 bioFET 將對(duì)分析物的生物響應(yīng)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)。集成到 4200A-SCS 中的 Clarius 軟件包括一個(gè)用于測(cè)試 bioFET 的項(xiàng)目。以此為起點(diǎn)檢定生物傳感器的傳輸和輸出特性，并從這里展開工作。
飛法電容測(cè)量
使用 4215-CVU 模塊測(cè)量亞毫微微法拉電容。通過驅(qū)動(dòng) 1 V AC，在測(cè)量 1 fF 電容器時(shí)，4215-CVU 的噪聲水平可低至 6 attofarad。這只是 Clarius 軟件隨附的用于測(cè)量電容和提取重要參數(shù)的數(shù)十種應(yīng)用程序之一。
半導(dǎo)體和 NVM 可靠性
通過全面脈沖 I-V 檢定在測(cè)試中利用新技術(shù)。 4200A-SCS 為 NVRAM 技術(shù)提供支持和即用型測(cè)試，從浮動(dòng)門電路閃存到 ReRAM 和 FeRAM，不一而足。 電流和電壓雙源和測(cè)量功能同時(shí)支持瞬態(tài)和 I-V 域檢定。
提供適合高阻抗應(yīng)用的 C-V 測(cè)量功能
采用 Keithley 的自定義極低頻 C-V 技術(shù)分析高電阻樣本的電容。 該技術(shù)可通過僅使用源測(cè)量單元 (SMU) 儀器實(shí)現(xiàn)應(yīng)用，同時(shí)可與 4210-CVU 結(jié)合使用，執(zhí)行更高頻率測(cè)量。
特點(diǎn)
.01 ~ 10 Hz 頻率范圍，1 pF ~ 10 nF 靈敏度
3? 位典型分辨率，典型值 10 fF
使用長(zhǎng)電纜或電容式夾具時(shí)進(jìn)行測(cè)試
當(dāng)測(cè)試需要非常長(zhǎng)的電纜或具有較高電容的夾具時(shí)，請(qǐng)使用 4201 或4211-SMU。這些 SMU 非常適合連接 LCD 測(cè)試站、探測(cè)器、開關(guān)矩陣或任何其他大型或復(fù)雜的測(cè)試儀。現(xiàn)場(chǎng)可安裝版本使您無需將設(shè)備返回服務(wù)中心即可增加容量。
材料電阻率
使用集成了 SMU 的 4200A-SCS，可通過四點(diǎn)同軸探頭或范德堡法輕松測(cè)量電阻率。 內(nèi)含測(cè)試可自動(dòng)重復(fù)執(zhí)行范德堡計(jì)算，節(jié)省您寶貴的研究時(shí)間。 10aA 的上限電流分辨率和大于 10----16 歐姆的輸入阻抗可提供更準(zhǔn)確和精準(zhǔn)的結(jié)果。
MOSFET 檢定
4200A-SCS 可容納所有必要的儀器，用于通過組件或晶圓測(cè)試執(zhí)行全面的 MOS 設(shè)備檢定。 內(nèi)含測(cè)試和項(xiàng)目可以解決 MOSCap 的氧化物厚度、門限電壓、摻雜濃度、移動(dòng)離子濃度等問題。 只需觸摸一個(gè)儀器盒中的按鈕，即可運(yùn)行所有這些測(cè)試。
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