X200M高低溫手動屏蔽探針臺擁有穩定可靠的測試平臺，保證測試中的扎針質量。優異的光學系統結合分辨率＜2μm的針座系統，確保扎針的穩定性。直流應用中，X200M高品質的電纜和三軸信號通路，可使DUT特性分析達到fA水平；射頻應用中，通過縮短擴頻模塊與探針之間連接器的距離，可高效且更好地實現THz內器件高品質參數的提取。優異的三軸低漏電載物臺選件，提高器件測試的信心。載物臺的單手快速移動及升降、一體化真空開關等優化設計使操作流程更加簡潔與人性化，無論是初學者還是經驗者，使用起來都非常方便、易懂。

專門為升級和擴展所設計的各種選項， 可輕松實現如負載牽引系統、太赫茲系統、 輻照系統、1/f噪聲等系統的搭載，X200M 系統也可根據您的未來項目需求重新配置。

高低溫手動屏蔽探針臺產品特點

?機臺可輕松實現 - 60~200/300°C 高低溫測試。

?提供芯片級I-V / C-V低噪聲全 金屬屏蔽測試系統方案。

?可輕松實現太赫茲及擴頻模塊的 升級搭載。

?多孔吸附式載物臺設計，更好地 兼容薄晶圓固定。

?優異的屏蔽系統可搭載高低溫， 為芯片提供更加成熟穩定的老化 測試環境。

?短軸式拉桿設計，將更加符合新 一代芯片系統測試的需求。

?多種可選CHUCK類型，滿足常 規及高壓等特殊條件的測試。