目錄:賽默飛電子顯微鏡>>透射電子顯微鏡（TEM）>> 200 kV場發射透射電鏡 Talos F200i TEM
| 價格區間 | 面議 | 儀器種類 | 熱場發射 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 環保,化工 |
主要特點
選擇 X-FEG、高亮度 X-FEG 或超高亮度冷場發射槍 (X-CFEG)。X-CFEG 將 (S)/TEM 成像及能量分辨率相結合。
從單個 30 mm2 檢測器到用于高通量（或低劑量）分析的雙 100 mm2 檢測器中，選擇您需求的 EDS 檢測器。
創新且直觀的 Velox 軟件用戶界面非常簡單，從而輕松獲得高質量的 TEM 或 STEM 圖像。Velox 軟件中的 EDS 吸收校正功能可實現最準確的定量。
添加斷層掃描或原位樣品架。快速攝像機、智能軟件和我們的寬 X-TWIN 物鏡間隙可在盡可能不降低分辨率和分析功能的情況下實現 3D 成像和原位采集。
超穩定的色譜柱、借助 SmartCam 的遠程操作和恒定功率物鏡，可進行快速模式和高電壓 (HT) 切換。多用戶環境的快速輕松切換。
所有日常 TEM 調整、例如聚焦、共心高度、電子束移位、冷凝器光闌、電子束傾斜樞軸點和旋轉中心都是自動進行的，確保您始終從最佳成像條件開始工作。實驗可重現，使您可以專注于研究，而不是工具。
4k × 4k Ceta CMOS 攝像機及其大視野使得可以在整個高張力范圍內以高靈敏度和高速進行實時數字縮放。
更小的占地面積和尺寸有助于在更具挑戰性的空間中使用此工具，同時降低基礎設施和支持成本。
| TEM |
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| 操作 系統XX 單元 |
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| 真空系統 |
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| STEM 成像 |
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| 能量色散 X 射線光譜 (EDS) |
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| 電子能量損失光譜 (EELS) |
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| 槍亮度 200 kV |
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