目錄:上海首立實業(yè)有限公司>>HORIBA(理科學(xué))>>X射線熒光光譜儀>> XGT-7200X射線分析顯微鏡
XGT-7200技術(shù)參數(shù)
測量元素:Na~U
X射線管:銠(Rh)靶 /管電壓 50 kV / 管電流 1 mA
X射線熒光檢測器:SDD硅漂移檢測器
透過X射線檢測器:NaI(Ti)晶體
X射線導(dǎo)管:單毛細(xì)管 10μm / 100μm 無濾光片
光學(xué)圖像:樣品整體光學(xué)像及共軸放大圖像
樣品臺尺寸:XY:100mm×100mm
樣品倉:全真空模式/ zui大真空 300mm×300mm×80mm
信號處理:數(shù)值脈沖處理器(INCA處理器 )
定性分析:自動定義譜峰/ KLM線標(biāo)注/ 譜峰查找/ 譜峰匹配
定量分析:無標(biāo)樣基本參數(shù)法/ 標(biāo)準(zhǔn)無標(biāo)樣基本參數(shù)法/ 標(biāo)準(zhǔn)文件匹配基本參數(shù)法/ 校正曲線/ 多層膜基本參數(shù)法/ 多點分析(zui多5000)/ 多點結(jié)果輸出至Excel®
面掃描功能:透過X射線像/ 元素面分布圖/ 譜圖面掃描 /矩形面掃描/ 生成譜圖/ RGB合成/ 標(biāo)尺/ 線分析
其它功能:可同時開啟XGT-5200操作軟件
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)