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多功能激光掃描共聚焦熒光成像系統-FLIM300產品功能：
熒光強度、壽命成像
載流子遷移成像
熒光/拉曼光譜采集
光電流成像
電致發光成像
多功能激光掃描共聚焦熒光成像系統-FLIM300主要技術指標：
激光掃描振鏡模塊參數
進光方式 | 激光光纖輸入，配電控光闌系統 |
掃描成像范圍 | 4096*4096pix（Max） |
掃描波長范圍 | 400-900nm |
倒置顯微鏡模塊
物鏡 | 100x、50x、10x空氣鏡（可選配油鏡） |
最高空間分辨率 | ≤260nm |
穩態光譜檢測模塊
單色儀焦長 | 300mm |
探測器 | PMT或CCD |
波長探測范圍 | 400-900nm |
TCSPC模塊
時間精度 | 7ps |
光譜檢測范圍 | 400-900nm |
Bin通道數 | 4096 |
時間窗口 | 5μs（可拓展長壽命檢測） |
時間分辨率 | ≤70ps |
選配模塊
皮秒半導體激光器375/405/440/480/510/635/665/690/850/940/1060nm |
可選皮秒超連續白光激光器410nm-2400nm，配濾波器實現波長可調 |
熒光強度成像、熒光壽命成像
共聚焦掃描成像模式
樣品名稱 | MAP bI3納米線 |
物鏡 | 100X |
激發波長 | 400nm |
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