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工業CT通用檢測系統XRH222既滿足常規檢測又滿足檢測分析，例如自動缺陷識別（ADR）和計算機斷層掃描（CT）。

工業CT重型檢測系統XRH222TL工業CT重型檢測系統XRH222TL是專門用于重型和大型零件的X射線檢測系統。

工業CT頂部安裝檢測系統XRHGantry是高度靈活的系統，可以靈活的檢測大型或復雜零件。

工業CT便攜式系統XRHM obile超堅固和高度移動的數字成像（DR）系統，用于無損檢測。

工業CT緊湊全能型系統XRH111可用于CT和ADR等檢查任務。

I-V曲線測試儀 PV200太陽能光伏測試及I-V曲線跟蹤

1500V光伏組串檢測儀 Solar Utility ProSolar Utility Pro能夠檢測高1500V/40A的多組并聯的光伏串，解決了以往因為超過...

光伏安裝測試儀/便捷光伏檢測儀英國seaward PV150 太陽能安裝檢測儀為光伏安裝提供、簡單的電氣和光伏安裝性能確認。

布魯克電荷靈敏前置放大器 CUBE布魯克電荷靈敏前置放大器 CUBE（立方）是一種以脈沖復位模式運行的單片電荷靈敏式前置放大器，借助外部電阻器，也可以以連續復位...

DANTE數字脈沖處理器DANTE數字脈沖處理器伽馬射線探測器信號，數字脈沖處理器，前置放大器芯片，X射線信號，前置放大器芯片，SDD探測器，同步輻射光源。

薄膜測厚儀MProbe系列反射光譜干涉法是一種非接觸式、無損的、快速的光學薄膜厚度測量技術。

反射膜厚儀MProbe VisMProbe Vis薄膜測厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩定的被測量。

反射膜厚儀MProbe UVVisSRMProbe UVVisSR薄膜測厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩定的被測量。

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反射膜厚儀MProbe NIR采用近紅外光譜（NIR）的測厚儀可以用于測量一些可見光和紫外光無法使用的應用領域，比如在可見光范圍內有吸收的太陽能薄膜（CIGS,...

顯微反射膜厚儀MProbe MSPMProbe MSP顯微薄膜測厚儀適用于實時在線測量，多層測量，非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫（超過500材料），新材料可以...

涂層測厚儀SURFIX®X系列測量儀器: 彩屏, PC 連接，易操作,以及適合PHYNIX探頭

涂層測厚儀SURFIX®系列用于鋼/鐵以及有色金屬的清漆、油漆和電鍍以及陽氧化涂層的快速測量

涂層測厚儀SURFIX®簡易系列Surfix® 簡易系列的測量探頭均由硬質合金制成，這意味著它具有幾乎無限的使用壽命。