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探針式表面輪廓儀在嚴格的質量保證與控制下獲得300mm性能檢測;可容納多大350mm*350mm的樣品,將Dektak有意的可重復性和再現性應用于大尺寸晶片及面...
Dektak XTL 嚴格的質量保證與控制下獲得300mm性能檢測;可容納多大350mm*350mm的樣品,將Dektak有意的可重復性和再現性應用于大尺寸晶片...
Dektak XTL 嚴格的質量保證與控制下獲得300mm性能檢測;可容納多大350mm*350mm的樣品,將Dektak有意的可重復性和再現性應用于大尺寸晶片...
布魯克探針式表面輪廓儀(又稱“臺階儀")歷今四十載,積累大量專有技術。從傳統的二維表面粗糙度和臺階高度測量,到更高級的三維表面成像和薄膜應力測試,Dektak臺...
布魯克探針式表面輪廓儀(又稱“臺階儀")歷今四十載,積累大量專有技術。從傳統的二維表面粗糙度和臺階高度測量,到更高級的三維表面成像和薄膜應力測試,Dektak臺...
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